检索结果相关分组
王安石巧对主考官
作者:杨晓苍  来源:小学生之友 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 王安石  临川  少年  江西  测试  州府  唐宋八大家  听后  宝塔  文学家 
描述:王安石巧对主考官
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  产品线  汽车工业  合作伙伴  制造商  系统  公司  器件  TM  测试 
描述:到30
科利登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体产业  测试  集成电路设计  中国市场  设备公司  中国公司  记者  发展  全球  上海 
描述:China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
作者:暂无 来源:无线电工程 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  DA测试公司  QuartetOne  SoC芯片  测试能力 
描述:DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
科利登:成就测试帝国
作者:安勇龙  来源:电子经理世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:科利登:成就测试帝国
科利登发布D-6432DFT测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  Systems  半导体设计  微处理器  供应商  性价比  器件 
描述:半导体设计、测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试
科利登推出新型测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 推出  Kalos  集成电路测试系统  Personal  科利登系统公司  非挥发性存储器  测试能力  存储器件  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 器件测试  并行测试  特性分析  测试系统  专用芯片  高密度  测试能力  移动电话  高集成  数字仪器 
描述:IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
Credence Systems推出新的桌面测试系统
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  桌面测试系统  PersonalKalos2  非易失性存储器 
描述:Credence Systems推出新的桌面测试系统