检索结果相关分组
- 科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
- 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- 凤凰出版社最新推出：《周亮工全集》（全18册）
- 作者：暂无 来源：古典文学知识 年份：2009 文献类型 ：期刊文章
- 描述：凤凰出版社最新推出：《周亮工全集》（全18册）
- 科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 设计纠错 验证 Verity系统 芯片
- 描述：科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 科利登系统公司 微控制器 混合信号 显示驱动 e系列 多功能 消费类 封装
- 描述：科利登系统公司（Credence）日前宣布，推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器、无线基带、显示驱动
- 科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司 测试选件
- 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
- 凤凰出版社最新推出《周亮工全集》（全18册）
- 作者：暂无 来源：中国典籍与文化 年份：2009 文献类型 ：期刊文章
- 描述：凤凰出版社最新推出《周亮工全集》（全18册）
- Crystek推出采用SMD封装的5GHz VCO/Ver
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：Crystek推出采用SMD封装的5GHz VCO/Ver