检索结果相关分组
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
新闻总汇--测试与测量
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: LabVIEW工具包  NI公司  非挥发性存储器器件  软件驱动程序  光纤通道控制器芯片  科利登系统有限公司 
描述:新闻总汇--测试与测量
科利登跻身ATE塔尖行列
作者:东郭  来源:电子设计应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体行业  科利登公司  ATE  IC  SoC  测试  ASL1000  ASL3000RF  市场 
描述:科利登跻身ATE塔尖行列
王安石巧对主考官
作者:杨晓苍  来源:小学生之友 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 王安石  临川  少年  江西  测试  州府  唐宋八大家  听后  宝塔  文学家 
描述:王安石巧对主考官
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  产品线  汽车工业  合作伙伴  制造商  系统  公司  器件  TM  测试 
描述:到30
科利登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体产业  测试  集成电路设计  中国市场  设备公司  中国公司  记者  发展  全球  上海 
描述:China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
作者:暂无 来源:无线电工程 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  DA测试公司  QuartetOne  SoC芯片  测试能力 
描述:DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
科利登:成就测试帝国
作者:安勇龙  来源:电子经理世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:科利登:成就测试帝国
科利登发布D-6432DFT测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  Systems  半导体设计  微处理器  供应商  性价比  器件 
描述:半导体设计、测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试