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测试
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条
测试
与测量
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试仪
科利登公司
采样示波器
测量
数据采集设备
PXI模块
HSDPA
自动测试
自动控制
描述:
科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2.0高速数据采集设备;[第一段]
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳
测试
奖)奖项。[第一段]
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科利登系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
Credence亮相Semicon China 2003:
作者:
周检兵
来源:
集成电路应用
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
Mr.LarryDibattista
半导体
行业
SemiconChina2003
中国市场
测试
描述:
供设计、
测试
验证和先进的光学检测方面的
测试
技术,使低
测试
成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可
科利登推出Sapphire-D10系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科利登系统公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
优秀的人才体制应是“大浪淘沙”:访国家“千人计划”特聘专家
作者:
温才妃
来源:
国际人才交流
年份:
2013
文献类型 :
期刊文章
关键词:
人才体制
半导体
浪淘沙
大功率激光器
两个极端
中国科学院
转化工作
重点实验室
研究方向
天才
描述:
片、大功率激光器及光电子芯片产业成果转移转化工作。博士毕业后他
新闻总汇--
测试
与测量
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
LabVIEW工具包
NI公司
非挥发性存储器器件
软件驱动程序
光纤通道控制器芯片
科利登系统有限公司
描述:
新闻总汇--
测试
与测量
科利登跻身ATE塔尖行列
作者:
东郭
来源:
电子设计应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
行业
科利登公司
ATE
IC
SoC
测试
ASL1000
ASL3000RF
市场
描述:
科利登跻身ATE塔尖行列
王安石巧对主考官
作者:
杨晓苍
来源:
小学生之友
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
王安石
临川
少年
江西
测试
州府
唐宋八大家
听后
宝塔
文学家
描述:
王安石巧对主考官
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
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