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连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 用户满意度调查  供应商  VLSI  ATE  测试解决方案  自动测试设备  2005年  LSI公司  半导体行业  加工设备 
描述:全球半导体行业从设计到产品的测试解决方案厂商——系统(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  系统公司  诊断  测试平台  Test  测试覆盖率  测试向量 
描述:adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
香港科技园运用先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
第四届系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨会  西安  中国  年会  IC测试  RFID芯片 
描述:对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:在2006年度VLSI Research客户满意度调查中,公司再次取得了很好的排名。公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了公司的产品、客户服务和支持的独到之处
系统把握“五四之子”的思想建构——《殷海光集》导言
作者:张建军  来源:社会科学论坛(学术评论卷) 年份:2008 文献类型 :期刊文章 关键词: 殷海光  中国逻辑史  导言  五四  系统  逻辑学  周礼全  陆学 
描述:一1994年2月,时任中国逻辑学会会长的周礼全主编的《逻辑学百科辞典》出版,人们在该书"中国逻辑史"分部"人物"篇末尾,看到了"殷海光"这个当时在中国大陆学界还非常陌生的名字。辞条释文如下:
Credence Systems推出新的桌面测试系统
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  桌面测试系统  PersonalKalos2  非易失性存储器 
描述:Credence Systems推出新的桌面测试系统