检索结果相关分组
- 科利登完成对恩浦国际（NPTest）的收购
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登完成对恩浦国际（NPTest）的收购
- 《论语·里仁》:“君子喻于义,小人喻于利”新解
- 作者：刘洪波 刘凡 来源：古籍整理研究学刊 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 《论语》 《鲁论》 踰 孔子 仁义 利
- 描述：“君子踰于义,小人踰于利。”一句与今本《论语》在文字上就有差异,笔者认为竹简本中此句当属《鲁论》,“踰”应理解成“超过”、“超出”的意思,这种理解是与孔子思想相符的。
- 科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 VLSI公司 用户满意度 自动测试设备
- 描述：科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
- 用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 器件测试 并行测试 特性分析 测试系统 专用芯片 高密度 测试能力 移动电话 高集成 数字仪器
- 描述：IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
- 科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 设计纠错 验证 Verity系统
- 描述：科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
- 第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 西安 并行测试 技术研讨会 解决方案 同期 封装测试 现场 展示 混合信号 设计
- 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨 西安 测试解决方案 生产测试 供应商
- 描述：从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation）日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试技术研讨年会”。[第一段]
- 科利登新聘资深专家加强公司领导团队力量
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 力量 专家 测试解决方案 半导体工业 首席执行官 全球范围 市场 供应商
- 描述：现场运营和市场团队，集中于逐渐扩展科利登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]