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地下矿山
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多金属矿石
半导体工业
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地下矿
分层充填采矿法
公司
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根据【检索词:瑞典玻利登矿物公司用重选法从复合硫化矿中选金】搜索到相关结果
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条
科
利
登
市场动作频频备受全球业界瞩目
作者:
海菲
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
全球
市场
科
利
登
系统
公司
测试解决方案
半导体工业
描述:
世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科
利
登
系统
公司
近两个月来连续宣布三个市场动作,备受全球业界瞩目。[第一段]
通过购买多台科
利
登
的ASL1000测试系统Best Ele
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL1000
供应商
购买
半导体行业
Components
公司
世界
有限公司
测试成本
混合信号
测试解决方案
描述:
ECCI是业界领先的测试方案供应商,可以为线性、模拟和混合信号器件提供参数及功能测试的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM测试温度传感器,
科
利
登
新设工程培训中心,继续得到用户认可
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
科
利
登
系统
公司
工程
认可
用户
自动测试仪器
半导体产品
SOC测试
首席执行官
工业大学
特性分析
混合信号
产业市场
测试设备
实践经验
中国
总裁
描述:
中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备,让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
科
利
登
(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科
利
登
推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利
登
系统
公司
(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
ELMOS签署了购买多台科
利
登
Piranha系统协议
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
签署
购买
产品线
合作伙伴
科
利
登
公司
需求
协议
ha系统
器件
平台
描述:
科
利
登
公司
日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台科
利
登
Piranha系统的协议。作为科
利
登
的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足
公司
对支持其整个汽车器件产品线测试
Atmel利用科
利
登
的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线测试
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:Atmel
公司
购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用科
利
登
无线测试系统实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
测试解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel
公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司
近日宣布,Atmel
公司
选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科
利
登
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
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