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登测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  登系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
威盛电子将科登(Credence)的Octet作为首选芯
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  电子  生产测试  计算机芯片  测试时间  测试系统  可配置  芯片组  股份有限公司  系统公司 
描述:登系统公司最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将科登公司的可配置 SOC 芯片测试系统用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
登公司公布2003财年第一季度结果
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 第一季度  财政年度  测试方案  美元  半导体工业  销售额  供应商  净亏损  有限公司  日结束 
描述:为全球半导体工业从设计到生产提供测试方案的主要供应商科登公司(Nasdaq:CMOS),日前公开了于2003年1月31日结束的第一季度的财政收入情况。2003财政年度第一季度的净销售额为3,670
Zetex半导体选择科登的ASL3000测试其类型广泛的
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  混合信号  拟和  登系统公司  类型  测试解决方案  集成电路器件  美国加州  半导体业  测试成本  分立器件  产品市场  测试方案  供应商  设计 
描述:说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
IC China2005科登公司展品介绍
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  展品介绍  IC  Kalos 
描述:Sapphire D-10;Kalos;Falcon。[第一段]
登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI  超大规模集成电路  测试  登系统公司  ATE  供应商  满意度 
描述:登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
登与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心  工程  合作  北方  登系统公司  IC  半导体产品  SoC测试  工业大学  特性分析 
描述:登系统公司日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
法国翁湾盆地的地热及压实作用
作者:Jean Burrus 赵艳秋 郑军  来源:海洋石油 年份:1991 文献类型 :期刊文章 关键词: 沉积物  裂谷作用  蒸发岩  欠压实作用  岩石圈  沉积作用  热流  张性盆地  孔隙度  成熟度 
描述:测定古温度方便易行,
瑞典布登公司分层充填采矿法的发展和应用
作者:胡际平  来源:矿业工程 年份:1987 文献类型 :期刊文章 关键词: 上向分层充填采矿法  斜坡道  充填料  多金属矿石  上向进路充填法  露天开采  上向进路充填采矿法  凿岩台车  下向分层胶结充填法  溜矿井 
描述:登矿产公司是瑞典最大的有色金属矿产公司,创建于1925年,1986年在瑞典北部和中部共经营18个矿山,年产矿石1600万t。其中,除艾蒂克铜矿(年产矿石1100万 t,露天开采)和兰斯瓦尔铅矿