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测试
器件
半导体工业
半导体生产
半导体材料
科利登公司
失效分析
器件测试
Raytheon公司
公司
半导体市场
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462
条
科
利
登
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
半导体器件
高速串行总线
可测性设计
微处理器
环路测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
Credence
科
利
登
为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
科
利
登
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登
系统
公司
Sun
公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun
公司
将使用该
系统
测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登
发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了
科
利
登
市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
科
利
登
提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
集成电路
测试技术
系统
级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。
科
利
登
系统
公司
适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。
科
利
登
系统
公司
是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
威盛电子将
科
利
登
(Credence)的Octet作为首选芯
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
电子
生产测试
计算机芯片
测试时间
测试
系统
可配置
芯片组
股份有限公司
系统
公司
描述:
科
利
登
系统
公司
最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将
科
利
登
公司
的可配置 SOC 芯片测试
系统
用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
Zetex半导体选择
科
利
登
的ASL3000测试其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统
公司
类型
测试解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试成本
分立器件
产品市场
测试方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
科
利
登
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利
登
系统
公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利
登
系统
公司
近日宣布:根据VLSI
公司
2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备
公司
中排名第四。[第一段]
科
利
登
与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工程
合作
北方
科
利
登
系统
公司
IC
半导体产品
SoC测试
工业大学
特性分析
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
Sapphire D-10来自
科
利
登
的测试经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利
登
的测试经济化革新
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