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测试
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条
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述：
科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者：
暂无
来源：
集成电路应用
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Cadence
验证
合作
科利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述：
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
科利登（Credence）和Cadence合作验证加快良率
作者：
暂无
来源：
半导体行业
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Cadence
验证
合作
科利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述：
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据，[第一段]
Credence和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Cadence
验证
合作
科利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
描述：
段]
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