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科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统 
描述:科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
物理设计纠错和验证完整解决方案 显著加快新品上市进程
作者:丁辉文  来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 物理设计纠错  验证  半导体制造  硅片纠错  科利登公司 
描述:术的快速发展与迅速变
科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统  芯片 
描述:科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  科利登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试覆盖率  测试向量 
描述:adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
科利登(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  科利登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量  捕获数 
描述:adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
Credence和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  科利登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量 
描述:段]