检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(2)
按栏目分组
历史名人
(2)
按年份分组
2005
(2)
按来源分组
半导体行业
(1)
半导体技术
(1)
相关搜索词
团队
处理器
首页
>
根据【关键词:测试效率】搜索到相关结果
2
条
Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
ASL3000
测试效率
WLAN
测试解决方案
无线器件
测试成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
Atmel利用科利登的ASL 3000RF^TM无线测试系
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试吞吐量
解决方案
测试效率
测试系统
网络分析技术
模拟信号
系统特点
接收器
市场提供
处理器
描述:
F是科利登具有高测试吞吐量、较小占地面积的线性和模拟信号 IC测试系统之一。该系统特点之一是采用专利的调制矢量网络分析技术(MFVNA),这一技术与系统的高并行度结构结合可以为RFIC提供无可比拟的测试吞吐量性能。带有数字和基带模拟工具的先进RF仪器能够满足多种混合信号和RF性能 IC的测试需要。
首页
上一页
1
下一页
尾页