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1
条
为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
作者：
胡芃
来源：
中国集成电路
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登公司
总经理
测试成本
中国
创新
描述：
为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
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