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科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
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作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
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描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
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第四届科利登年度技术研讨会西安召开
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作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
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描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试的趋势、零一中频收发器以及RFID芯 片新的测试方法、高速总线基础等；同时还 会有科利登最新产品Sapph
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