科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可

【作者】

【刊名】半导体技术

【关键词】 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度

【摘要】SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]

【年份】2006

【期号】第9期

【所属分类】 TN492