科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV

作者: 日期:2006.01.01 点击数:0

【作者】

【刊名】电子与封装

【关键词】 测试平台 测试能力 射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司 测试选件

【摘要】pphire D系列的测试能力。[第一段]

【年份】2006

【期号】第8期

【所属分类】 TN92;TP336

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