第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安

【作者】

【刊名】半导体技术

【关键词】 技术研讨会 西安 中国 年会 IC测试 RFID芯片

【摘要】对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]

【年份】2006

【期号】第7期

【所属分类】 TN407