科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统

【作者】

【刊名】电子测试(新电子)

【关键词】 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏

【摘要】科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

【年份】2005

【期号】第1期

【所属分类】 TN407