科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程

作者: 日期:2005.01.01 点击数:0

【作者】

【刊名】国外电子测量技术

【关键词】 科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程

【摘要】科利登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]

【年份】2005

【期号】第9期

【所属分类】 TN402;G633.7

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