日月光定购多台科利登的SoC测试系统Octet

【作者】

【刊名】电子工业专用设备

【关键词】 SoC测试 半导体测试 生产测试 器件 光测 系统性能 测试能力 纳斯达克 股票 量产

【摘要】统性能和测试能力，可以满足下一代器件技术，对测试系统测试容量和范围的要求。

【年份】2003

【期号】第6期

【所属分类】 TN407;F407.63