科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程

【作者】

【刊名】集成电路应用

【关键词】 Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量

【摘要】adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]

【年份】2005

【期号】第9期

【所属分类】 TN402;F407.63