新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率

【作者】

【刊名】电子与电脑

【关键词】 成品率 掩模 测试解决方案 系统定位 集成电路 量产时间 物理分析 供应商 问题 产品

【摘要】正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

【年份】2004

【期号】第12期

【所属分类】 TN915.07