科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test

【作者】

【刊名】电子与封装

【关键词】 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商

【摘要】2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。

【年份】2006

【期号】第2期

【所属分类】 F4