为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生

【作者】 胡芃

【刊名】中国集成电路

【关键词】 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新

【摘要】

【年份】2006

【期号】第9期

【所属分类】 F416.6