科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统

【作者】

【刊名】电子设计应用

【关键词】 科利登公司 芯片 成本控制 封装测试系统 D—10系统 图形调试

【摘要】

【年份】2005

【期号】第10期

【所属分类】 TN407