科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
【刊名】半导体技术
【关键词】 systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
【摘要】开发。[第一段]
【年份】2006
【期号】第7期
【所属分类】 TP368.1;TP274
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