科利登D-6432DFT满足高数据速率需求

【作者】

【刊名】世界电子元器件

【关键词】 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试

【摘要】的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器

【年份】2007

【期号】第8期

【所属分类】 TN407