科利登Sapphire D-10系统获奖
【刊名】国外电子测量技术
【关键词】 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
【摘要】科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
【年份】2006
【期号】第2期
【所属分类】 F416.63
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