科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用

【作者】

【刊名】中国集成电路

【关键词】 Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口

【摘要】很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。

【年份】2006

【期号】第8期

【所属分类】 TP274