第四届科利登年度技术研讨会西安召开

【作者】 杨振中

【出版日期】2006.06.05

【版次】

【入库时间】20100601

【全文】

全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试的趋势、零一中频收发器以及RFID芯 片新的测试方法、高速总线基础等；同时还 会有科利登最新产品Sapphire D-10的实机 展示。$$ 科利登系统有限公司负责市场宣传 及投资关系的副总裁Judy Dale女士表 示：“西安是中国半导体产业新兴和迅猛 发展的城市之一，这里有很多大学，因此 这也是我们技术研讨会理想的举办地之 一。本次技术研讨会是科利登公司继续 履行对本地客户承诺的重大举措之 一——提供尽可能多的解决方案和教育 培训。”$$ SapphireD-10平台足一款革新的高产 能多功能圆片和封装测试解决方案，特别为 微控制器，无线基带，显示驱动及低成木消 费类混合信号芯片测试市场的低成本需求 而设计。它还能对应200Mbps的高速圆片 测试市场，支持高度的并行测试。系统的采 用模块化设计结构，可灵活配置，最多能支 持768个数字通道，并配备高密度的模拟和 混合信号仪器，而其成本只有竞争机型的一 半左右。