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科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统

作者:杨振中 出版日期:2006.03.27 点击数:0

【作者】 杨振中

【报纸名称】:电子资讯时报

【出版日期】2006.03.27

【版次】

【入库时间】20100601

【全文】

【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析产品系列。这些 解决方案能帮助半导体生产商提高产品 质量和合格率,并明显地缩短了产品上市 时间,减少总体成本。科利登将在SEMI- CON China展示了以下产品: Sapphire D-10 Sapphire D-10平台刚刚荣获了由 《测试测量世界》授予的“最佳测试奖” 的奖项,它是一款革新的高产能、多功 能圆片和封装测试解决方案,特别为微 控制器、无线基带、显示驱动及低成本 消费类混合信号芯片测试市场的低成本 需求而设计。她还能对应200Mbps的高 速圆片测试市场,支持高度的并行测试。 系统的采用模块化设计结构,可灵活配 置,最多能支持768个数字通道,并配 备高密度的模拟和混合信号仪器,而其 成本只有竞争机型的一半左右。 完整的失效分析实验室方案 科利登完整的65nm器件实验室失效 分析方案包括发射显微镜,具有时序精度 的发射技术,激光扫描显微镜以及电路编 辑等多种工具和设备。它还包括了相应的 软件工具,把所有以上这些失效分析设备 以及设计调试硬件方法集成为一个简单 易用,高效方便的实验室调试分析方案, 满足当今先进器件开发的需要。事实证 明,科利登的完整实验室是一套高投资回 报的整体方案,她通过优化和提高整个产 品质量来提高产品的合格率和可靠性。通 过其强大的缺陷定位能力,该方案能减少 产品开发过程中的工程和光罩费用,并大 大增加新产品抢占第一市场的机会。通过 快速和精确的关键缺陷分析,科利登的完 备失效分析实验室解决方案能加速产品 的上市,同时还能通过优化设计的特征参 数降低生产中所需的裕量。 Falcon 科利登的Falcon系列能提供独特的 模拟、DSP和数字功能,专门用于汽车电 子、高级模拟及电源类芯片的测试。Falcon 能提供很高的产能,她拥有每个通道的 200MHz数字控制器。通过其电脑与测试 仪间的高速接口,以及并行、多端点和同 时测试能力,Falcon能明显减少测试的成 本。Falcon的设计理念是把数字测试,模 拟仪器,大电压大电流能力和先进的DSP 技术等集成为一个单一系统。DSP仪器系 列能提供一个大范围的混合信号测试能 力,其动态特性能达到200MS/s,并能支持 最大为20位的高精度,能很好满足像汽 车电子、智能电源、数据转换等多种应用 的并行测试。

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