科利登获“最佳测试奖”

【出版日期】2006.01.17

【版次】第03版(数字商情)

【入库时间】20110110

【全文】

  本报讯  近日，来自美国加州苗必达市的消息称：科利登系统有限公司的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统荣获２００６年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。

据了解，Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。它采用先进科技，集诸多特性功能。设计方面，考虑到量产测试和工程验证的不同测试要求。

  《测试与测量世界》之所以选择科利登的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０作为２００６年度Ｂｅｓｔ ｉｎ Ａｗａｒｄｓ奖项是因为该款系统综合了高速的数据交换网络，基于ＦＰＧＡ的高度灵活性以及高密度的ＣＭＯＳ集成来提高系统测试各种消费类芯片的产能和效率。

  作为一种革新的测试系统设计理念，并结合科利登的先进技术，Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统首先在北美和亚洲的多个ＩＤＭ和ＯＳＡＴ工厂被采用，证明了它在降低内置ＭＣＵ，显示驱动控制和无线基带芯片测试成本时的重大成果。